X 射線束損數(shù)據(jù)采系統(tǒng)電子學(xué)

A****核技術(shù)應(yīng)用設(shè)備

采購X射線束損數(shù)據(jù)采系統(tǒng)電子學(xué)（以下稱電子學(xué)）22套，對(duì)應(yīng)HIAF-iLinac直線加速器項(xiàng)目中的107套X射線劑量監(jiān)測(cè)探頭（以下稱探測(cè)器）。該次采購電子學(xué)為定制產(chǎn)品，主要技術(shù)要求如下： 具備兩種工作模式： 工作模式1：計(jì)數(shù)模式，通過FPGA對(duì)輸入脈沖信號(hào)實(shí)現(xiàn)高速計(jì)數(shù) （1）最小時(shí)間分辨率達(dá)到3.33 ns，即要求時(shí)鐘達(dá)到300 MHz； （2）最大計(jì)數(shù)率 ≥ 50 MHz。 工作模式2：波形數(shù)字化模式：能夠?qū)崟r(shí)采集束損信號(hào)并顯示 （1）16-bit ADC; （2）存儲(chǔ)深度 ≥ 2k samples； （3）具備過閾值積分或平均功能：閾值0 ~ 100mV 其他要求：需要正品證明，含安裝服務(wù)及三年原廠質(zhì)保。 詳細(xì)指標(biāo)以招標(biāo)文件技術(shù)要求為準(zhǔn)。 交貨要求：合同簽訂后1個(gè)月內(nèi)運(yùn)達(dá)甲方指定地點(diǎn)。