薄膜厚度探頭臺(tái)式反射計(jì)

免費(fèi)樣品檢驗(yàn) 48小時(shí)發(fā)貨工廠直銷

￥100萬-200萬元

產(chǎn)品規(guī)格：短時(shí)可測(cè)膜、SENTECH大型材料庫(kù)、附帶大量預(yù)定義配方

公司所在地：重慶

產(chǎn)品庫(kù)存：現(xiàn)貨及定制

可供貨地區(qū)：全國(guó)

其他說明：

獲得薄膜厚度的最短方法；獨(dú)特的自動(dòng)建模功能；基于 SENTECH?的大型材料庫(kù)；可測(cè)量多層樣品中任何層的厚度；菜單驅(qū)動(dòng)的操作軟件允許在出色的操作員指導(dǎo)下測(cè)量單層和多層結(jié)構(gòu)的厚度；

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獲得薄膜厚度的最短方法；獨(dú)特的自動(dòng)建模功能；基于 SENTECH?的大型材料庫(kù)；可測(cè)量多層樣品中任何層的厚度；菜單驅(qū)動(dòng)的操作軟件允許在出色的操作員指導(dǎo)下測(cè)量單層和多層結(jié)構(gòu)的厚度；收起